解析！上海XRD检测的基本原理和日常应用

　　上海XRD检测是透过X光与晶体的绕射产生图谱，并从图谱数据库比对，即可推论出材料晶体的排列结构、晶体排列的方式和奈米晶粒大小，以及单晶、多晶薄膜材料的结晶性分析等，为评估材料特性的一种非破坏式分析仪器。

　　上海XRD检测的基本原理：

　　当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强XRD，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。这就是上海XRD检测的基本原理。

　　根据其原理，某晶体的衍射花样的特征主要的是两个：

　　1、衍射线在空间的分布规律；

　　2、衍射线束的强度。

　　其中，衍射线的分布规律由晶胞大小，形状和位向决定，衍射线强度则取决于原子的品种和它们在晶胞的位置。因此，不同晶体具备不同的衍射图谱。

　　上海XRD检测的应用：

　　XRD检测技术已经成为基本、重要的一种结构测试手段，XRD在材料、化学、生物、地质、医药方面具有广泛运用。它主要应用为物相分析、结晶度的测定、精密测定点阵参数等。

　　物相分析：是XRD检测在金属中用得多的方面，分定性分析和定量分析。前者把对材料测得的点阵平面间距及衍射强度与标准物相的衍射数据相比较，确定材料中存在的物相；后者则根据衍射花样的强度，确定材料中各相的含量。在研究性能和各相含量的关系和检查材料的成分配比及随后的处理规程是否合理等方面都得到广泛应用。

　　结晶度的测定：结晶度定义为结晶部分重量与总的试样重量之比的百分数。非晶态合金应用非常广泛，如软磁材料等，而结晶度直接影响材料的性能，因此结晶度的测定就显得尤为重要了。测定结晶度的方法很多，但不论哪种方法都是根据结晶相的衍射图谱面积与非晶相图谱面积决定。

　　精密测定点阵参数：常用于相图的固态溶解度曲线的测定。溶解度的变化往往引起点阵常数的变化；当达到溶解限后，溶质的继续增加引起新相的析出，不再引起点阵常数的变化。这个转折点即为溶解限。另外点阵常数的精密测定可得到单位晶胞原子数，从而确定固溶体类型；还可以计算出密度、膨胀系数等有用的物理常数。