XRD应用介绍-数据质量

发表时间：2023-05-19

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作者：伦琴实验室

前言

XRD作为材料结构表征的重要手段之一，广泛应用于材料、物理、化学、药物等领域。为了能够得到准确的分析结果，或者探索更多的结构信息，XRD数据的质量是基础，也是解析XRD图谱的关键一环。那么，什么是高质量的XRD数据呢？

X射线衍射图谱组成

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图1 X射线衍射图谱组成

XRD图谱组成部分和与之对应的物理参数：

1. 峰位: 1.准确。 2.空间群。 3.晶胞参数。

2. 峰强：1.强度高，相对强度准确。2.晶体结构。 3.定量分析。

3. 峰形：1.FWHM小，峰形对称（图2）。2.仪器展宽。 3.样品微观结构。

4. 背底：1.背底低，低角度平缓，峰背比高，信噪比高。 2.弱峰检出限（图3）。 3.非晶漫散峰,“结晶度”。

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图2 不同分辨率的XRD图谱

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图3 峰背比和信噪比对弱峰

XRD数据质量与测试效率

高质量数据：峰位准确、强度高（）且准确（相对）、峰形好（分辨率高，对称性性好）、峰背比和信噪比高。

高质量的数据获得往往与测试效率成反比，非常耗时。精细的仪器调试、合理的硬件选择以及较长时间的测试。

不是每种应用都需要非常高的数据质量。应该根据不同的应用需要，选择合适的硬件及测量条件，得到相应的数据质量，提高测试效率。

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